著录信息
- 专利名称：一种大量程陶瓷量面铝合金防磁数显卡尺
- 专利类型：实用新型
- 申请号：CN201320851241.8
- 公开(公告)号：CN203642831U
- 申请日：20131220
- 公开(公告)日：20140611
- 申请人：桂林广陆数字测控股份有限公司
- 发明人：闫列雪,李央,唐张兵,黄桂云
- 申请人地址：541004 广西壮族自治区桂林市高新区空明西路11号
- 申请人区域代码：CN450305
- 专利权人：桂林广陆数字测控股份有限公司
- 洛迦诺分类：无
- IPC：G01B5/00,G01B1/00
- 优先权：无
- 专利代理机构：无
- 代理人：无
- 审查员：无
- 国际申请：无
- 国际公开(公告)：无
- 进入国家日期：无
- 分案申请：无
关键词
尺框,陶瓷件,耐磨性,卡尺,铝合金材料,氧化锆陶瓷,表面硬度,测量磁性,测量显示,化学镀镍,机械加工,精密测量,耐磨材料,数显卡尺,测量面,重量轻,盖板,铝合金,量程,陶瓷,维修
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