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著录信息

  • 专利名称:一种用于刻蚀二氧化硅掩膜的浆料的清洗工艺
  • 专利类型:发明
  • 申请号:CN200810207489.4
  • 公开(公告)号:CN101447530B
  • 申请日:20081222
  • 公开(公告)日:20100609
  • 申请人:上海晶澳太阳能光伏科技有限公司
  • 发明人:李静,朴松源,郭育林,王鹏
  • 申请人地址:200436 上海市闸北区江场三路36号
  • 申请人区域代码:CN310108
  • 专利权人:上海晶澳太阳能光伏科技有限公司
  • 洛迦诺分类:
  • IPC:H01L31/18,H01L21/00,H01L21/02
  • 优先权:
  • 专利代理机构:广州知友专利商标代理有限公司 44104
  • 代理人:李海波
  • 审查员:罗慧晶
  • 国际申请:
  • 国际公开(公告):
  • 进入国家日期:
  • 分案申请:

关键词

刻蚀二氧化硅,清洗工艺,浆料,喷淋,掩膜,选择性发射极,浸渍,超声波清洗,性能的影响,硅片表面,太阳电池,循环纯水,电池片
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