著录信息
- 专利名称：一种测试编带机的芯片探测装置
- 专利类型：发明
- 申请号：CN201510526301.2
- 公开(公告)号：CN105182217B
- 申请日：20150825
- 公开(公告)日：20171107
- 申请人：东莞中之光电股份有限公司
- 发明人：张万功,尹梓伟
- 申请人地址：523000 广东省东莞市松山湖新城大道3号
- 申请人区域代码：CN441900
- 专利权人：东莞中之光电股份有限公司
- 洛迦诺分类：无
- IPC：G01R31/28
- 优先权：无
- 专利代理机构：广东莞信律师事务所 44332
- 代理人：曾秋梅
- 审查员：甘雨鹭
- 国际申请：无
- 国际公开(公告)：无
- 进入国家日期：无
- 分案申请：无
关键词
夹具,探测头,主干,探测,减速电机,驱动机构,丝杆组件,探测电极,铰接,转轴,底座,芯片,测试编带机,传动相连,对称弹性,对称状态,角度调整,十字架状,芯片探测,臂结构,端头,分枝,固连,滑块,两组,测试,驱动,延伸
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