著录信息
- 专利名称：基于测静磁力的薄板类铁磁材料中微缺陷的无损检测方法
- 专利类型：发明
- 申请号：CN201310473904.1
- 公开(公告)号：CN103499636B
- 申请日：20131011
- 公开(公告)日：20160413
- 申请人：中国科学院大学,上海大学
- 发明人：王晓东,任忠鸣
- 申请人地址：100049 北京市石景山区玉泉路19号（甲）
- 申请人区域代码：CN110107
- 专利权人：中国科学院大学,上海大学
- 洛迦诺分类：无
- IPC：G01N27/82
- 优先权：无
- 专利代理机构：北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201
- 代理人：罗文群
- 审查员：唐仕军
- 国际申请：无
- 国际公开(公告)：无
- 进入国家日期：无
- 分案申请：无
关键词
永磁体,反作用力,待测,表面缺陷,力传感器,内部缺陷,无损检测,薄板上,静磁力,微缺陷,测定,薄板材料,测量精度,磁性薄板,方法测量,检测结果,检测速度,铁磁材料,再次使用,不存在,不相同,可探测,微米级,标定,检测,两个,一种,确定,可靠,相同,进行,涉及
网站提醒和声明
免责声明：
本站为会员提供信息存储空间服务，由于更新时间等问题，可能存在信息偏差的情况，具体请以品牌企业官网信息为准。如有侵权、错误信息或任何问题，请及时联系我们，我们将在第一时间删除或更正。
版权声明>>
修改>>
申请删除>>
平台自有内容（文字、图片、界面、榜单、商标、LOGO 等）知识产权归本站所有，未经书面许可，禁止复制、转载、商用。本站不生产产品、不提供产品销售服务、不代理、不招商、不提供中介服务。本页面内容不代表本站支持投资购买的观点或意见，页面信息仅供参考和借鉴。
提交说明：
快速提交发布>>
查看提交帮助>>
注册登录>>
