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著录信息

  • 专利名称：一种确认半成品电池片抗PID性能的测试方法
  • 专利类型：发明
  • 申请号：CN201410215742.6
  • 公开(公告)号：CN103956974B
  • 申请日：20140521
  • 公开(公告)日：20151209
  • 申请人：常州天合光能有限公司
  • 发明人：肖娅,陈红,高传楼,彭义富
  • 申请人地址：213022 江苏省常州市新北区电子产业园天合路2号
  • 申请人区域代码：CN320411
  • 专利权人：常州天合光能有限公司
  • 洛迦诺分类：无
  • IPC：H02S50/10
  • 优先权：无
  • 专利代理机构：常州市科谊专利代理事务所 32225
  • 代理人：孙彬
  • 审查员：张玉麒
  • 国际申请：无
  • 国际公开(公告)：无
  • 进入国家日期：无
  • 分案申请：无
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