著录信息
- 专利名称：基于冗余余数系统的抗辐照加固方法及装置
- 专利类型：发明
- 申请号：CN201110119806.9
- 公开(公告)号：CN102163250B
- 申请日：20110510
- 公开(公告)日：20120718
- 申请人：电子科技大学
- 发明人：胡剑浩,李磊,马上
- 申请人地址：611731 四川省成都市高新(西)区西源大道2006号
- 申请人区域代码：CN510124
- 专利权人：电子科技大学
- 洛迦诺分类：无
- IPC：G06F17/50
- 优先权：无
- 专利代理机构：四川力久律师事务所 51221
- 代理人：林辉轮;王芸
- 审查员：苏丹
- 国际申请：无
- 国际公开(公告)：无
- 进入国家日期：无
- 分案申请：无
关键词
冗余,余数系统,加固,二进制操作数,余数,辐照,辐照性能,纠错步骤,设计架构,数据路径,运算步骤,操作数,开销,运算,架构,转化
网站提醒和声明
免责声明：
本站为会员提供信息存储空间服务，由于更新时间等问题，可能存在信息偏差的情况，具体请以品牌企业官网信息为准。如有侵权、错误信息或任何问题，请及时联系我们，我们将在第一时间删除或更正。
版权声明>>
修改>>
申请删除>>
平台自有内容（文字、图片、界面、榜单、商标、LOGO 等）知识产权归本站所有，未经书面许可，禁止复制、转载、商用。本站不生产产品、不提供产品销售服务、不代理、不招商、不提供中介服务。本页面内容不代表本站支持投资购买的观点或意见，页面信息仅供参考和借鉴。
提交说明：
快速提交发布>>
查看提交帮助>>
注册登录>>
