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著录信息

  • 专利名称：直拉单晶直径测量方法
  • 专利类型：发明
  • 申请号：CN201210563386.8
  • 公开(公告)号：CN103046128B
  • 申请日：20121221
  • 公开(公告)日：20151028
  • 申请人：西安隆基硅材料股份有限公司,无锡隆基硅材料有限公司,宁夏隆基硅材料有限公司,银川隆基硅材料有限公司
  • 发明人：石磊,邢建龙
  • 申请人地址：710100 陕西省西安市长安区航天中路388号
  • 申请人区域代码：CN610116
  • 专利权人：西安隆基硅材料股份有限公司,无锡隆基硅材料有限公司,宁夏隆基硅材料有限公司,银川隆基硅材料有限公司
  • 洛迦诺分类：无
  • IPC：C30B15/26
  • 优先权：无
  • 专利代理机构：西安弘理专利事务所 61214
  • 代理人：罗笛
  • 审查员：崔艳
  • 国际申请：无
  • 国际公开(公告)：无
  • 进入国家日期：无
  • 分案申请：无
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