著录信息
- 专利名称：可靠性测试板及PCB板孔间CAF失效分析方法
- 专利类型：发明
- 申请号：CN201310738219.7
- 公开(公告)号：CN103728512B
- 申请日：20131226
- 公开(公告)日：20161130
- 申请人：广州兴森快捷电路科技有限公司,深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司,宜兴硅谷电子科技有限公司
- 发明人：李文杰
- 申请人地址：510663 广东省广州市科学城光谱中路33号
- 申请人区域代码：CN440106
- 专利权人：广州兴森快捷电路科技有限公司,深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司,宜兴硅谷电子科技有限公司
- 洛迦诺分类：无
- IPC：G01R31/00
- 优先权：无
- 专利代理机构：广州华进联合专利商标代理有限公司 44224
- 代理人：谢伟;曾旻辉
- 审查员：章英
- 国际申请：无
- 国际公开(公告)：无
- 进入国家日期：无
- 分案申请：无
关键词
可靠性测试板,导电阳极,邻近区域,研磨,观察孔壁,失效分析,所在平面,测试法,切片,垂直,分析,制定
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