著录信息
- 专利名称：一种粉体金属电阻率测量装置
- 专利类型：发明
- 申请号：CN200610063069.4
- 公开(公告)号：CN100516855C
- 申请日：20061013
- 公开(公告)日：20090722
- 申请人：深圳大学,深圳市中金岭南有色金属股份有限公司
- 发明人：郭金川,王国华,周彬,李清湘,李夏林,刘侦德,牛憨笨
- 申请人地址：518060广东省深圳市南山区南海大道3688号
- 申请人区域代码：CN440305
- 专利权人：深圳大学,深圳市中金岭南有色金属股份有限公司
- 洛迦诺分类：无
- IPC：G01N27/04,G01N27/02
- 优先权：无
- 专利代理机构：深圳市智科友专利商标事务所
- 代理人：曲家彬
- 审查员：陈永晖
- 国际申请：无
- 国际公开(公告)：无
- 进入国家日期：无
- 分案申请：无
关键词
滑块,测试装置,底座,测量样品,测量装置,体积变化,样品材料,电极,微位移,粉体,直尺,电阻率测量装置,电阻测量仪器,位移传感器,液晶显示屏,测量方法,密度变化,电阻率,金属电,伸缩杆,压力计,金属,连接,固定
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