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著录信息

  • 专利名称:形变位移测试架
  • 专利类型:实用新型
  • 申请号:CN201320296972.0
  • 公开(公告)号:CN203249638U
  • 申请日:20130527
  • 公开(公告)日:20131023
  • 申请人:德凯质量认证(上海)有限公司
  • 发明人:陈学林,林挺,林高远,杨浩
  • 申请人地址:200436 上海市闸北区江场三路250号10楼
  • 申请人区域代码:CN310108
  • 专利权人:德凯质量认证(上海)有限公司
  • 洛迦诺分类:
  • IPC:G01D11/30
  • 优先权:
  • 专利代理机构:上海天翔知识产权代理有限公司 31224
  • 代理人:吕伴
  • 审查员:
  • 国际申请:
  • 国际公开(公告):
  • 进入国家日期:
  • 分案申请:

关键词

控制面板,拉线位移,传感器,支撑立柱,水平梁,底座,显示器,固定,尺寸规格,实验样品,形变位移,测试架,悬臂式,连接
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