x射线荧光光谱仪测什么的 X射线荧光光谱仪如何检测样品中的金属元素

一、x射线荧光光谱仪测什么的

X射线荧光光谱仪（X-rayFluorescenceSpectrometer，简称：XRF光谱仪），是一种快速的、非破坏式的物质测量方法。X射线荧光（X-rayfluorescence，XRF）是用高能量X射线或伽玛射线轰击材料时激发出的次级X射线。XRF用X光或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会放射出特征X光；不同的元素会放射出各自的特征X光，具有不同的能量或波长特性。检测器（Detector）接受这些X光，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管（EURoHS）和考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。

二、X射线荧光光谱仪如何检测样品中的金属元素

当使用X射线光照样品时，样品可以被激发出各种波长的荧光X射线，把混合的X射线按波长（或能量）分开，分别测量不同波长（或能量）的X射线的强度，就可以进行定性和定量分析，为此使用的仪器为X射线荧光光谱仪（以下简称XRF）。

实验室如何利用XRF这种较为成熟的分析技术检测固体样品中的金属元素？实验室将拿到的试样过200目筛，按照提供的方法进行制样，从中选择能覆盖分析元素含量范围并具有一定梯度的样品，经化学方法准确定值后，与同样粒度的3个标准样品一起分别压片用于建立工作曲线。

方法采用压片法，根据不同的压力对样品进行压片，做压力与样品元素强度试验，确定压力和保压时间。（分析合金样品过程中粒度效应是影响荧光光谱仪结果的主要主要因素之一，需要通过固定破碎试样的克数与研磨时间来保持试样与分析试样粒度一致，确定研磨时间。）

输入各元素的化学值，用荧光光谱仪测定其强度，以元素化学值为横坐标，强度为纵坐标，分别建立一次作曲线，并得到相应的的回归情况，得到结果元素的相对标准偏差RSD<1％，这表明用XRF测定这些固体样品金属元素有很好的分析精度。整个检测过程快速、准确，不需要化学方法对样品进行前处理，同时可以实现多元素分析，并可以替代复杂的检测方法。

XRF适合用于元素分析和化学分析，理论上可以测定元素周期表中从F-U（除去惰性气体一族）的元素，分析范围广，可分析浓度范围从1μg/g～100%。可用于（但不限于）实验室检测依据的部分标准方法包括：

GB/T 21114-2019耐火材料 X射线荧光光谱化学分析 熔铸玻璃片法。

YS/T 575.23-2009 铝土矿石化学分析方法 第23部分：X射线荧光光谱法测定元素含量。

GB/T 6609.30-2009 氧化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第30部分：X射线荧光光谱法测定微量元素含量等。

在研究金属、玻璃、地质、建筑材料等领域，X射线荧光光谱仪是较为常见的非破坏性元素分析方法，由于可直接分析固体或者是液体试样，进行非破坏分析，适用场景较多，在元素分析领域是一种切实可行的检测方法。实验室X射线荧光光谱仪XRF可以测量样品中的金属元素组成，对送样的需求需要进行进一步的沟通。