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靶材的分类有哪些 靶材的性能和指标

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摘要:靶材是高速荷能粒子轰击的目标材料,是制造芯片过程中不可缺少的材料。根据不同材质靶材可划分为金属靶材,陶瓷靶材,合金靶材。根据不同应用方向靶材可划分为半导体关联靶材、磁记录靶材、光记录靶材。下面来了解下靶材的性能和指标。

一、靶材的分类有哪些

1、根据不同材质划分

(1)金属靶材

镍靶Ni、钛靶Ti、锌靶Zn、铬靶Cr、镁靶Mg、铌靶Nb、锡靶Sn、铝靶Al、铟靶In、铁靶Fe、锆铝靶ZrAl、钛铝靶TiAl、锆靶Zr、铝硅靶AlSi、硅靶Si、铜靶Cu、钽靶Ta、锗靶Ge、银靶Ag、钴靶Co、金靶Au、钆靶Gd、镧靶La、钇靶Y、铈靶Ce、不锈钢靶、镍铬靶NiCr、铪靶Hf、钼靶Mo、铁镍靶FeNi、钨靶、W等。

(2)陶瓷靶材

ITO靶、氧化镁靶、氧化铁靶、氮化硅靶、碳化硅靶、氮化钛靶、氧化铬靶、氧化锌靶、硫化锌靶、二氧化硅靶、一氧化硅靶、氧化铈靶、二氧化锆靶、五氧化二铌靶、二氧化钛靶、二氧化锆靶,、二氧化铪靶,二硼化钛靶,二硼化锆靶,三氧化钨靶,三氧化二铝靶五氧化二钽,五氧化二铌靶、氟化镁靶、氟化钇靶、硒化锌靶、氮化铝靶,氮化硅靶,氮化硼靶,氮化钛靶,碳化硅靶,铌酸锂靶、钛酸镨靶、钛酸钡靶、钛酸镧靶、氧化镍靶、溅射靶材等。

(3)合金靶材

铁钴靶FeCo、铝硅靶AlSi、钛硅靶TiSi、铬硅靶CrSi、锌铝靶ZnAl、钛锌靶材TiZn、钛铝靶TiAl、钛锆靶TiZr、钛硅靶TiSi、钛镍靶TiNi、镍铬靶NiCr、镍铝靶NiAl、镍钒靶NiV、镍铁靶NiFe等。

2、根据不同应用方向划分

(1)半导体关联靶材

电极、布线薄膜:铝靶材,铜靶材,金靶材,银靶材,钯靶材,铂靶材,铝硅合金靶材,铝硅铜合金靶材等。

储存器电极薄膜:钼靶材,钨靶材,钛靶材等。

粘附薄膜:钨靶材,钛靶材等。

电容器绝缘膜薄膜:锆钛酸铅靶材等。

(2)磁记录靶材

垂直磁记录薄膜:钴铬合金靶材等。

硬盘用薄膜:钴铬钽合金靶材,钴铬铂合金靶材,钴铬钽铂合金靶材等。

薄膜磁头:钴钽铬合金靶材,钴铬锆合金靶材等。

人工晶体薄膜:钴铂合金靶材,钴钯合金靶材等。

(3)光记录靶材

相变光盘记录薄膜:硒化碲靶材,硒化锑靶材,锗锑碲合金靶材,锗碲合金靶材等。

磁光盘记录薄膜:镝铁钴合金靶材,铽镝铁合金靶材,铽铁钴合金靶材,氧化铝靶材,氧化镁靶材,氮化硅靶材等。

二、靶材的性能和指标

靶材制约着溅镀薄膜的物理,力学性能,影响镀膜质量,因而要求靶材的制备应满足以下要求:

1、纯度:要求杂质含量低纯度高,靶材的纯度影响薄膜的均匀性,以纯Al靶为例,纯度越高,溅射Al膜的耐蚀性及电学、光学性能越好。不过不同用途的靶材对纯度要求也不同,一般工业用靶材纯度要求不高,但就半导体、显示器件等领域用靶材对纯度要求是十分严格的,磁性薄膜用靶材对纯度的要求一般为99.9%以上,ITO中的氧化铟以及氧化锡的纯度则要求不低于99.99%。

2、杂质含量:靶材作为溅射中的阴极源,固体中的杂质和气孔中的O2和H2O是沉积薄膜的主要污染源,不同用途的靶材对单个杂质含量的要求也不同,如:半导体电极布线用的W,Mo,Ti等靶材对U,Th等放射性元素的含量要求低于3*10-9,光盘反射膜用的Al合金靶材则要求O2的含量低于2*10-4。

3、高致密度:为了减少靶材中的气孔,提高薄膜的性能一般要求靶材具有较高的致密度,靶材的致密度不仅影响溅射时的沉积速率、溅射膜粒子的密度和放电现象等,还影响溅射薄膜的电学和光学性能。致密性越好,溅射膜粒子的密度越低,放电现象越弱。高致密度靶材具有导电、导热性好,强度高等优点,使用这种靶材镀膜,溅射功率小,成膜速率高,薄膜不易开裂,靶材的使用寿命长,且溅镀薄膜的电阻率低,透光率高。靶材的致密度主要取决于制备工艺。一般而言,铸造靶材的致密度高而烧结靶材的致密度相对较低,因此提高靶材的致密度是烧结制备靶材的技术关键之一。

4、成分与组织结构均匀,靶材成分均匀是镀膜质量稳定的重要保证,尤其是对于复相结构的合金靶材和混合靶材。如ITO,为了保证膜质量,要求靶中In2O3-SnO2组成均匀,都为93:7或91:9(分子比)。

5、晶粒尺寸细小,靶材的晶粒尺寸越细小,溅镀薄膜的厚度分布越均匀,溅射速率越快。

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